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FISCHER膜厚儀用實(shí)力體現出價(jià)值
點(diǎn)擊次數:1728 更新時(shí)間:2018-11-26 打印本頁(yè)面 返回
FISCHER膜厚儀用實(shí)力體現出價(jià)值
FISCHER膜厚儀用來(lái)測量材料及物體厚度的儀表,在工業(yè)生產(chǎn)中常用來(lái)連續或抽樣測量產(chǎn)品的厚度(如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料)。這類(lèi)儀表中有利用α射線(xiàn)、β射線(xiàn)、γ射線(xiàn)穿透特性的放射性厚度計;有利用超聲波頻率變化的超聲波厚度計;有利用渦流原理的電渦流厚度計;還有利用機械接觸式測量原理的測厚儀等。
FISCHER膜厚儀采用電磁感應法測量涂層的厚度,位于部件表面的探頭產(chǎn)生一個(gè)閉合的磁回路,隨著(zhù)探頭與鐵磁性材料間的距離的改變,該磁回路將不同程度的改變,引起磁阻及探頭線(xiàn)圈電感的變化。FISCHER膜厚儀利用這一原理可以地測量探頭與鐵磁性材料間的距離,即涂層厚度,測試方法主要有:磁性測厚法,放射測厚法,電解測厚法,渦流測厚法,超聲波測厚法。
FISCHER膜厚儀測量注意事項:
⒈在進(jìn)行測試的時(shí)恒要注意標準片集體的金屬磁性和表面粗糙度應當與試件相似。
⒉測量時(shí)側頭與試樣表面保持垂直。
⒊測量時(shí)要注意基體金屬的臨界厚度,如果大于這個(gè)厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。
⒋測量時(shí)要注意試件的曲率對測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時(shí)不可靠的。
⒌測量前要注意周?chē)渌碾娖髟O備會(huì )不會(huì )產(chǎn)生磁場(chǎng),如果會(huì )將會(huì )干擾磁性測厚法。
⒍測量時(shí)要注意不要在內轉角處和靠近試件邊緣處測量,因為一般的FISCHER膜厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。
⒎在測量時(shí)要保持壓力的恒定,否則會(huì )影響測量的讀數。
⒏在進(jìn)行測試時(shí)要注意FISCHER膜厚儀測頭和被測試件的要直接接觸,因此FISCHER膜厚儀在進(jìn)行對側頭清除附著(zhù)物質(zhì)。
在各個(gè)領(lǐng)域的廣泛應用,根據優(yōu)化產(chǎn)品性能和提高安全防護等級的需求,應用新一代的高壓電源和X光管,提高產(chǎn)品的可靠性;利用新X光管的大功率提高儀器的測試效率。FISCHER膜厚儀結構緊湊,堅固耐用,用于質(zhì)量控制的可靠的臺式射線(xiàn)熒光分析設備,提供簡(jiǎn)單,快速,無(wú)損的鍍層厚度測量和材料分析。