技術(shù)文章首頁(yè) > 技術(shù)文章 > 全部文章
菲希爾多功用測厚儀是工業(yè)和科研使用廣泛的測厚儀器
點(diǎn)擊次數:1610 更新時(shí)間:2019-01-15 打印本頁(yè)面 返回
菲希爾多功用測厚儀是工業(yè)和科研使用廣泛的測厚儀器
菲希爾多功用測厚儀廣泛應用于各種涂膠層如水溶性膠層以及各種PE、PVC、樹(shù)脂膜等材料厚度的在線(xiàn)檢測,采用高精度紅外反射探頭,精密“口”字形掃描機構連續對被測物進(jìn)行寬度方向上的左右掃描,工業(yè)用計算機采集數據,具有數據處理、掃描測量、任意點(diǎn)定點(diǎn)測量、圖形曲線(xiàn)顯示、偏差 報警、數據存儲、查詢(xún)等功能。
菲希爾多功用測厚儀對材料表面保護、裝飾形成的覆蓋層,如涂層、鍍層、敷層、貼層、化學(xué)生成膜等,在有關(guān)國家和標準中稱(chēng)為覆層,覆層厚度測量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測的重要一環(huán),是產(chǎn)品達到優(yōu)等質(zhì)量標準的*手段。為使產(chǎn)品化,我國出口商品和涉外項目中,對覆層厚度有了明確的要求。
覆層厚度的測量方法主要有:楔切法、光截法、電解法、厚度差測量法、稱(chēng)重法、X射線(xiàn)熒光法、β射線(xiàn)反向散射法、電容法、磁性測量法及渦 流測量法等。這些方法中前五種是有損檢測,測量手段繁瑣,速度慢,菲希爾多功用測厚儀適用于抽樣檢驗。X射線(xiàn)和β射線(xiàn)法是無(wú)接觸無(wú)損測量,但裝置復雜昂貴,測量范圍較小。因有放射源,使用者必須遵守射線(xiàn)防護規范。X射線(xiàn)法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線(xiàn)法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時(shí)采用。
隨著(zhù)技術(shù)的日益進(jìn)步,特別是近年來(lái)引入微機技術(shù)后,采用磁性法和渦流法的測厚儀向微型、智能、多功能、高精度、實(shí)用化的方向進(jìn)了一步,測量的分辨率已達0.1微米,精度可達到1%,有了大幅度的提高。菲希爾多功用測厚儀適用范圍廣,量程寬、操作簡(jiǎn)便且價(jià)廉,是工業(yè)和科研使用廣泛的測厚儀器。
菲希爾多功用測厚儀采用磁感應原理時(shí),利用從測頭經(jīng)過(guò)非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,來(lái)測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小,來(lái)表示其覆層厚度。菲希爾多功用測厚儀利用磁感應原理,原則上可以有導磁基體上的非導磁覆層厚度。一般要求基材導磁率在500以上,如果覆層材料也有磁性,則要求與基材的導磁率之差足夠大,當軟芯上繞著(zhù)線(xiàn)圈的測頭放在被測樣本上時(shí),儀器自動(dòng)輸出測試電流或測試信號。