1 開(kāi) / 關(guān)儀器
說(shuō)明：儀器沒(méi)有專(zhuān)門(mén)的開(kāi)關(guān)。
打開(kāi)儀器
- 當儀器放在工件上時(shí)自動(dòng)開(kāi)啟。如果儀器放在非鐵磁性或不導電材料上，顯示屏會(huì )顯示“Er6”，然后顯示四個(gè)水平短線(xiàn)而不顯示任何讀數。
- 另一種開(kāi)機方法是按 [OK]鍵。
請注意!
不要通過(guò)手指壓迫傳感器來(lái)開(kāi)啟儀器！這樣可能會(huì )導致錯誤的測量結果。
關(guān)閉儀器 / 自動(dòng)關(guān)閉
一分鐘不使用，儀器會(huì )自動(dòng)關(guān)閉。 （關(guān)閉 = 儀器沒(méi)有任何顯示）。
2 測量涂鍍層厚度
- 儀器開(kāi)啟后，把儀器放在要測量工件上，等待儀器發(fā)出測量聲響。這種方式可以自動(dòng)開(kāi)啟儀器。
- 把儀器提離工件。
測量聲響后顯示讀數。說(shuō)明：若太早提起儀器(未有聲響前)，錯誤信息 “Er6”會(huì )出現。重復步驟
3. 當儀器已在開(kāi)啟狀態(tài)時(shí)， 讀數會(huì )馬上顯示。儀器放在測量工件上及提起后均有顯示。
3 顯示儀器內儲存的測量數據
儀器zui多可以?xún)Υ?99個(gè)測量數據。
- 用 [5]鍵或 [6]鍵可翻看測量數據。
- 翻過(guò)*個(gè)或者zui后一個(gè)測量數據后，屏幕將顯示 “- - - - “并維持1秒鐘左右。
任何時(shí)候您都可以繼續測量。
4 刪除所有測量數據
- 按 [5] 或 [6]鍵。
- 按 [CAL]鍵。
“del” 即刪除將顯示 2 秒鐘。 - 在“del”顯示的時(shí)候按[OK]鍵。
儀器內所有測量數據將被刪除。
當 “del”不顯示的時(shí)候按 [OK]鍵將無(wú)任何反應。
5 歸一化
歸一化用來(lái)對測量?jì)x器進(jìn)行調整。歸一化需要未鍍過(guò)的底材，而且底材的形狀和物料必須和被測量的工件*。
說(shuō)明：歸一化會(huì )刪除所有的內存數據。
歸一化儀器 (前提: 儀器處于開(kāi)啟狀態(tài))
- 按 [CAL]鍵. 顯示 "Base" (即 “未鍍過(guò)的底材”).
- 在底材上測量五次左右
每次測量后，會(huì )顯示當前的讀數。 - 按兩次[OK] 鍵.
屏幕顯示 “Er17”，忽略它。
完成歸一化程序。
6 校準
校準需要有下面幾項東西：底材（形狀和底材物料要與待測部件*）和一片標準片(儀器隨機的75 µm左右標準片)。 說(shuō)明：校準將刪除內存中的所有讀數。
校準儀器（前提：儀器必須打開(kāi)）
- 按 [CAL]鍵。
顯示 "Base" (即 “未鍍過(guò)的底材”) - 在底材上測量五次左右.
每次測量后，會(huì )顯示當前的讀數。 - 按 [OK]鍵.
顯示 0.00 和 STD1 (即校準標準片 # 1). - 把校準標準片放在底材上，并測量5次左右。
每次測量后，屏幕上會(huì )顯示當前讀數。 - 用 [5] 或 [6]鍵調整第4步的zui后一個(gè)數值至標準片的標稱(chēng)值， 如“75 µm”。 標準片的標稱(chēng)值注明在標準片上。
- 按 [OK]鍵。
完成校準程序. 儀器返回測量狀態(tài).
7 刪除校準資料 / 恢復初始曲線(xiàn)
有時(shí)，如果經(jīng)過(guò)校準后，儀器測量仍然不準確，則可以刪除校準參數。如果先前的校準程序沒(méi)有正確進(jìn)行的話(huà)，就可能會(huì )發(fā)生這種情況。
在這種情況下，可以把特征曲線(xiàn)恢復到原始的出廠(chǎng)設定。
刪除儀器的校準參數 （前提：儀器必須打開(kāi)）
- 按[CAL]鍵. 屏幕上顯示"Base" (即 “底材”) .
- 在底材上測量5次左右.
- 按[OK]鍵. 顯示 “STD1" (即校準標準片 # 1) .
- 在底材上測量1次.
屏幕將顯示0左右的讀數. - 用[5] 或 [6] 鍵將 STD1調整到 0.00 .
屏幕將顯示 “0.00 STD1” . - 按 [OK] 鍵?；謴偷匠跏嫉奶卣髑€(xiàn)。
恢復完成。 儀器現在可以測量了。
8 服務(wù)菜單
進(jìn)入服務(wù)菜單及設定方法：
- 按[OK]鍵10次。屏幕上顯示“157”。
- 用[5]鍵設定到“159”。
- 按[OK]。屏幕顯示 FREE。
- 用[5] [6]鍵選擇服務(wù)菜單編號 (只可選 # 5 到 #10)
- 重復按[OK]選擇菜單內容， 利用 [5]或 [6] 進(jìn)行設定。
- zui后按[OK]離開(kāi)服務(wù)程序。
服務(wù)菜單# 5
內容 | 解釋 |
連續測量模式 | 連續測量模式下： 注意： 測量結束后，請務(wù)必關(guān)閉連續測量模式！否則電池將耗盡 (連續測量模式下自動(dòng)關(guān)機功能失效！) |
(服務(wù)菜單# 1 到 4 這款型號沒(méi)有)
服務(wù)菜單# 6
內容 | 解釋 |
顯示符號 | 按兩次 [OK]鍵將顯示全部符號。注：但不是所有符號MP0這款儀器都用到。 |
服務(wù)菜單# 7
內容 | 解釋 |
軟件版本 | 顯示儀器軟件版本 |
服務(wù)菜單# 8
內容 | 解釋 |
測試菜單 | 僅供維修使用! |
服務(wù)菜單# 9
內容 | 解釋 |
恢復到出廠(chǎng)設置 | 所有服務(wù)菜單的設置都將恢復到出廠(chǎng)設置。 |
服務(wù)菜單# 10
內容 | 解釋 |
主校準 | UCAL (僅供維修使用!) |
9 故障查找
信息 | 解釋 / 可能原因 | 解決方法 |
Er1 | 內部錯誤。 | 進(jìn)行歸零步驟。 如錯誤重復出現，聯(lián)絡(luò )Fischer維修部。 |
Er4 | 內存測量數據儲存滿(mǎn)。 | 刪除內存測量數據。 |
Er5 | 無(wú)法確定底材值。
| 用合適的標準片校正。 校正標準片至少要有實(shí)際工件涂鍍層的1/2厚(在涂層上校正時(shí))。
|
信息 | 解釋 / 可能原因 | 解決方法 |
Er6
| 超出測量范圍，不能顯示讀數。 原因: 涂鍍層太厚。 原因: 不正確測量。 原因: 歸零或校正方法有誤。 | 涂鍍層厚度在儀器測量范圍內。 正確測量 (例如: 在測量前或后，不要把儀器放在工件上徘徊；在測量后不要太快提起儀器)。 |
Er7 | 歸零或校正時(shí)，非正常值被認可了。 - 不正確測量標準片。
- 要求測量底材時(shí)卻測量了標準片。 - 測量有折痕的標準片。 - 測量時(shí)，儀器沒(méi)有平放在工件或標準片上。 | 刪除內存數據，重新測量。 重新正確歸零或校正 (例如:在測量前或后，不要把儀器放在工件上徘徊；在測量后不要太快提起儀器)。
在同一工件上測量多次取其平均值歸零。 更換標準片。 正確測量，將儀器平放在工件或標準片上。 |
Er12 | 校正時(shí)測量標準片順序錯誤。 | 按正確的順序重新校正。 |
Er13 | 主校準時(shí)，標準片的間隔不在允許范圍內。
使用了錯誤的標準片。
誤操作，在標準片上而不是在底材上歸零。 | 通知客戶(hù)服務(wù)部門(mén)。
使用正確的標準片。
在底材上歸零。 |
Er14 | 儀器內部錯誤: 無(wú)法計算主校準參數。原始主校準參數被保留。 | 重做主校正。 |
Er15 | 無(wú)法儲存主校準參數。 | 客戶(hù)服務(wù)部門(mén)。 |
Er17 | 讀數不夠， 因此無(wú)法結束一個(gè)組 。 | 再測幾個(gè)數據，直到*組可以結束，然后產(chǎn)生一個(gè)新的統計值。 |
Er22 | 儀器內部錯誤: 錯誤訪(fǎng)問(wèn)內存或EEPROM。
| 客戶(hù)服務(wù)部門(mén)。
|
Er28 | 儀器內部錯誤: 無(wú)法計算測量數據。 | 客戶(hù)服務(wù)部門(mén)。 |
10 技術(shù)資料
儀器型號 | DUALSCOPE® MP0 |
訂貨號 | 604-162 |
可測量的涂鍍層系統 | NF, Iso/Fe 磁性鋼鐵基材上非磁性鍍層和非導電涂層的厚度(磁感應方法) 和 Iso/NF 非磁性金屬 基材上非導電涂層的厚度
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測量范圍 | NF,Iso/Fe 0 - 2000 µm (0 - 78 mils) Iso/NF 0 - 2000 µm (0 - 78 mils) |
測量誤差 | For applications NF, Iso/Fe 0 ... 75 µm (0 - 3 mils) ± 1.0 µm 75 ... 1000 µm (3 - 39 mils) ± 2 % 1000 ... 2000 µm (39 - 78 mils) £ 3 % For applications Iso/NF 0 ... 50 µm (0 - 2 mils) ± 1 µm 50 ... 1000 µm (2 - 39 mils) ± 2 % 1000 ... 2000 µm (39 - 78 mils) £ 3 %
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重復精度 | For applications NF, Iso/Fe 0 ... 50 µm (0 - 2 mils) £ 0.25 µm 50 … 2000 µm (2 - 78 mils) £ 0.5 % For applications Iso/NF 0 ... 100 µm (0 - 4 mils) £ 0.5 µm 100 … 2000 µm (4 - 78 mils) £ 0.5 % |
重量 | 85 g (2.73 oz) (不含電池); 135 g (4.34 oz) (含電池) |
尺寸 | W x D x H: 64 mm x 30 mm x 85 mm (2.5” x 1.2” x 3.4”) |
電源 | 2 x battery LR6.AA 1.5 V |
功耗 | Max. 0.2 Watt |
環(huán)境溫度 | 操作溫度5° ... 40°C (41° – 104°F) ; 儲存溫度: 5°... 60°C (41° – 140°F) |
相對濕度 | 30 ... 90 % (無(wú)凝水) |
測量數據內存 | zui多999個(gè)測量讀數 |
zui小測量間隔 | 2 秒 |
11 儀器及附件的訂貨資料
項目 訂貨號 DUALSCOPEÒ MP0 604-162 電池 MP0R 2x LR6.AA 1.5 V 603-534 掛帶 MP0R 603-481 探頭保護罩MP0R 603-582 塑料校準標準片 75 µm MP0R 603-479 Al-基材 MP0R 603-478 Fe-基材 MP0R 603-477 |
