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測厚儀的工作流程
點(diǎn)擊次數:1653 更新時(shí)間:2018-03-28 返回
測厚儀的工作流程
測厚儀通過(guò)對薄膜材料的波浪邊、塌邊幅度進(jìn)行測量,以幫助用戶(hù)了解薄膜來(lái)料張力是否一致,滿(mǎn)足涂布或使用要求。測厚儀采用激光測量位移差的方式,測量薄膜在一定張力下的表面平整度,并根據設定規則自動(dòng)識別壞品,張力測量模塊由一個(gè)激光位移傳感器、驅動(dòng)機構組成。
測厚儀通過(guò)可調張力張緊薄膜被測物 后,驅動(dòng)機構帶動(dòng)位移傳感器橫向來(lái)回掃描,得到膜片橫向的高度差,根據轉換關(guān)系轉換成張力均勻性差異。測厚儀采用的高性能、低功耗微處理器技術(shù),基于超聲波測量原理,可以測量金屬及其它多種材料的厚度,并可以對材料的聲速進(jìn)行測量,可以對生產(chǎn)設備中各種管道和壓力容器進(jìn)行厚度測量,監測它們在使用過(guò)程中受腐蝕后的減薄程度,也可以對各種板材和各種加工零件作測量。
測厚儀可廣泛應用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各個(gè)領(lǐng)域,對厚度的測量,是由探頭產(chǎn)生超聲波脈沖透過(guò)耦合劑到達被測體,一部分超聲信號被物體底面反射,探頭接收由被測體底面反射的回波,地計算超聲波的往返時(shí)間,并按下式計算厚度值,再將計算結果顯示出來(lái)。測厚儀適合測量金屬(如鋼、鑄鐵、鋁、銅等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纖維及其他任何超聲波的良導體的厚度;可配備多種不同頻率、不同晶片尺寸的雙晶探頭使用。
測厚儀具有探頭零點(diǎn)校準、兩點(diǎn)校準功能,可對系統誤差進(jìn)行自動(dòng)修正;已知厚度可以反測聲速,以提高測量精度;具有耦合狀態(tài)提示功能; 標準速率每秒鐘4次,快速率:每秒20次,自動(dòng)識別主機說(shuō)明書(shū)上探頭類(lèi)型列表中的探頭;測厚儀調整內部參數,并修正V聲程錯誤;補償探頭溫度和零位偏移;顯示保持/空白模式,顯示測量讀數后,屏幕上保持讀數或顯示空白。