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淺析FISCHER膜厚儀的工作原理
點(diǎn)擊次數：952 更新時(shí)間：2021-12-13 返回
FISCHER膜厚儀對材料表面起保護，裝飾作用的覆蓋層，如涂層，鍍層，敷層，貼層，化學(xué)生成膜等，在一些國家和國際標準中稱(chēng)為覆層。
覆層厚度測量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測的重要環(huán)節，是產(chǎn)品達到優(yōu)等質(zhì)量標準的必要手段。為使產(chǎn)品國際化，我國出口商品和涉外項目中，對覆層厚度有了明確要求。
覆層厚度的測量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱(chēng)重法，X射線(xiàn)熒光法，β射線(xiàn)反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等等。這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。
X射線(xiàn)和β射線(xiàn)法是無(wú)接觸無(wú)損測量，但裝置復雜昂貴，測量范圍較小。因有放射源，使用者必須遵守射線(xiàn)防護規范。X射線(xiàn)法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線(xiàn)法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時(shí)采用。
FISCHER膜厚儀隨著(zhù)技術(shù)的日益進(jìn)步，特別是近年來(lái)引入微機技術(shù)后，采用磁性法和渦流法的膜厚儀向微型、智能、多功能、高精度、實(shí)用化的方向進(jìn)了一步。測量的分辨率已達0.1微米，精度可達到1%，有了大幅度的提高。它適用范圍廣，量程寬、操作簡(jiǎn)便且價(jià)廉，是工業(yè)和科研使用*泛的膜厚儀器。
采用無(wú)損方法既不破壞覆層也不破壞基材，檢測速度快，能使大量的檢測工作經(jīng)濟地進(jìn)行。
