Fischer測厚儀渦流探頭FAW3.3代理 FAW3.3適用于平面樣品、孔洞、管子和過(guò)渡區域的涂鍍層厚度測量。測量非鐵磁性金屬基材（NC / NF）上的非導電涂層。 適用于平面樣品或管道鉆孔和凹槽的測量。

X-RAY XULM 240 X射線(xiàn)熒光鍍層測厚儀 XULM適合測量小的結構。它配備了微聚焦管，測量點(diǎn)小可達約100μｍ，同時(shí)比例接收器仍然可以保持相對高的計數率。此外，XULM配備了可自動(dòng)切換的準直器和多種濾片可以靈活地為不同的測量應用創(chuàng )造*佳的激勵條件。

Fischer防腐測厚儀MMS INSPECTION DFT：由防腐專(zhuān)家負責研發(fā)，三款儀器的堅固性、易用性和測試能力令人印象深刻。它們可快速和可靠地完成重防腐所需的所有測試需求。DFT機型是用于測量鋼鐵和非鐵磁性金屬上的涂鍍層厚度的手持式設備。DPM機型配備了內置測量頭，用于測量和記錄與涂裝過(guò)程有關(guān)的所有氣象參數。SPG機型可以在瞬間完成對表面粗糙度的測量。

Fischer FMP30能否檢測鍍鎳 DELTASCOPE FMP30電磁感應測厚儀用于測量非磁性涂鍍層例如：鉻、銅、鋅、油漆、搪瓷或塑料在鐵基材上的厚度。ISOSCOPE FMP30氧化膜測厚儀用于測量油漆或塑料在非磁性金屬基材上的厚度；用于測量鋁基材上陽(yáng)極氧化層的厚度，也用于測量導電層在非導電基材上的厚度。

Couloscope CMS2電解法鍍層測厚儀 在電鍍行業(yè)中，對多層鎳鍍層中各自層的同時(shí)的厚度和電極電位的測定變成了一個(gè)越來(lái)越重要的需求。的多鍍層組成為不含硫的半光亮鎳層和含硫的光亮鎳層。這兩個(gè)鎳層?reg;間足夠的電位差導致了光亮鎳層優(yōu)先腐蝕于半光亮鎳層。這種次序也就延遲了整個(gè)鎳層的穿透速度，并且給了基材相對于單鍍層更好的防腐保護。