DualScope FMP40膜厚儀原理的詳細資料：

DualScope FMP40膜厚儀原理

DualScope FMP40膜厚儀原理?     

    菲希爾DUALSCOPE FMP40測厚儀膜厚儀 能夠自動(dòng)識別底材材料并且集成了兩種測量方法，使這個(gè)系列的儀器可以測量鋼材和鐵材亦或是非鐵磁基材上的大部分涂鍍層的厚度。 菲希爾DUALSCOPE FMP40測厚儀膜厚儀由于集合了兩種測量方法，這個(gè)系列的儀器還能夠在一次測量過(guò)程中同時(shí)測得兩層涂鍍層的厚度（油漆層/鋅層），并且分別顯示出來(lái)。

DUALSCOPE FMP40涂鍍層測厚儀采用了磁感應和電渦流兩種方法。
磁感應方法：
    通過(guò)探頭的激勵電流產(chǎn)生一個(gè)低頻磁場(chǎng)區域，該磁場(chǎng)的強度取決于涂鍍層厚度并經(jīng)磁性基材放大。測量線(xiàn)圈捕獲這個(gè)放大信號，然后通過(guò)儲存在儀器內的探頭特征曲線(xiàn)將信號轉換為涂鍍層厚度。

       采用磁感應原理時(shí)，利用從測頭經(jīng)過(guò)非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來(lái)測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小，來(lái)表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。利用磁感應原理的測厚儀，原則上可以有導磁基體上的非導磁覆層厚度。一般要求基材導磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性，則要求與基材的導磁率之差足夠大(如鋼上鍍鎳)。當軟芯上繞著(zhù)線(xiàn)圈的測頭放在被測樣本上時(shí)，儀器自動(dòng)輸出測試電流或測試信號。早期的產(chǎn)品采用指針式表頭，測量感應電動(dòng)勢的大小，儀器將該信號放大后來(lái)指示覆層厚度。一些電路設計引入穩頻、鎖相、溫度補償等地新技術(shù)，利用磁阻來(lái)調制測量信號。還采用設計的集成電路，引入微機，使測量精度和重現性有了大幅度的提高(幾乎達一個(gè)數量級)?，F代的磁感應測厚儀，分辨率達到0.1um，允許誤差達1%，量程達10mm。

磁性原理測厚儀可應用來(lái)測量鋼鐵表面的油漆層，瓷、搪瓷防護層，塑料、橡膠覆層，包括鎳鉻在內的各種有色金屬電鍍層，以及化工石油待業(yè)的各種防腐涂層。

電渦流方法：
通過(guò)探頭的激勵電流產(chǎn)生一個(gè)高頻初級磁場(chǎng)區域，該磁場(chǎng)在基材內產(chǎn)生感生電渦流，次級磁場(chǎng)區域削弱初級磁場(chǎng)區域，削弱影響相當于探頭和基材之間的距離即涂鍍層的厚度，然后通過(guò)儲存在儀器內的探頭特征曲線(xiàn)將削弱影響轉換為涂鍍層厚度值顯示出來(lái)。

高頻交流信號在測頭線(xiàn)圈中產(chǎn)生電磁場(chǎng)，測頭靠近導體時(shí)，就在其中形成渦流。測頭離導電基體愈近，則渦流愈大，反射阻抗也愈大。這個(gè)反饋作用量表征了測頭與導電基體之間距離的大小，也就是導電基體上非導電覆層厚度的大小。由于這類(lèi)測頭專(zhuān)門(mén)測量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度，所以通常稱(chēng)之為非磁性測頭。非磁性測頭采用高頻材料做線(xiàn)圈鐵芯，例如鉑鎳合金或其它新材料。與磁感應原理比較，主要區別是測頭不同，信號的頻率不同，信號的大小、標度關(guān)系不同。與磁感應測厚儀一樣，渦流測厚儀也達到了分辨率0.1um，允許誤差1%，量程10mm的高水平。

采用電渦流原理的測厚儀，原則上對所有導電體上的非導電體覆層均可測量，如航天航空器表面、車(chē)輛、家電、鋁合金門(mén)窗及其它鋁制品表面的漆，塑料涂層及陽(yáng)極氧化膜。覆層材料有一定的導電性，通過(guò)校準同樣也可測量，但要求兩者的導電率之比至少相差3-5倍(如銅上鍍鉻)。雖然鋼鐵基體亦為導電體，但這類(lèi)任務(wù)還是采用磁性原理測量較為合適

This universal instrument can be used to measure numerous coatings both on iron/steel and on non-ferromagnetic metals and non-conducting carrier materials.