菲希爾測厚儀DualScope MP0校準的詳細資料：

菲希爾DualScope MP0校準

菲希爾DualScope MP0校準：僅需簡(jiǎn)單的三步即可校準：測基材歸零位、測標準片校準、調校準數值OK！

1、校正
按下，屏幕“校正"位置相對應的按鈕。
請注意需要使用未鍍過(guò)的底材，而且底材的形狀和材質(zhì)必須和被測量的工件*。
（1）正?；▋x器歸零）→ 按OK鍵進(jìn)入→ 按屏幕提示測量底材（基材）3-5次→按OK鍵確認→屏幕顯示“正
常完成成功"，再次按OK鍵完成。
（2）校正→按屏幕提示測量底材（基材）3-5次，不建議按屏幕中的“跳過(guò)"鍵跳過(guò)→按OK鍵確認→把標準片
放在前面的基材上，測量標準片 3-5 次→按“設置"鍵→進(jìn)入設置界面后按↑↓鍵調整數值直到和標準片相同→按
“OK"鍵確定→以上步驟確認無(wú)誤后再按“OK"鍵至第二片標準片→校正步驟同*片→按“OK"確認。
（儀器只附帶一片標準片，第二片時(shí)可以直接跳過(guò)；如客戶(hù)有多塊標準片，校正時(shí)請按從薄到厚的順序進(jìn)行校正。）
（3）簡(jiǎn)易校準→在基材上測量200um以上的標準片3-5次左右，并設置相應數值→按“OK"鍵完成。（此功能
只適合200um以上的涂鍍層使用）
（4）刪除校正

菲希爾DualScope MP0校準分為兩種模式：零位校準和校準片校準

一、零位校準 歸一化

歸一化用來(lái)對測量?jì)x器進(jìn)行調整。歸一化需要未鍍過(guò)的底材，而且底材的形狀和物料必須和被測量的工件*。

說(shuō)明：歸一化會(huì )刪除所有的內存數據。

歸一化儀器 (前提: 儀器處于開(kāi)啟狀態(tài))

• 按 [CAL]鍵. 顯示 "Base" (即 “未鍍過(guò)的底材").

• 在底材上測量五次左右
  每次測量后，會(huì )顯示當前的讀數。

• 按兩次[OK] 鍵.
  屏幕顯示 “Er17"，忽略它。
  完成歸一化程序。

二、  校準

校準需要有下面幾項東西：底材（形狀和底材物料要與待測部件*）和一片標準片(儀器隨機的75 µm左右標準片)。 說(shuō)明：校準將刪除內存中的所有讀數。

校準儀器（前提：儀器必須打開(kāi)）

• 按 [CAL]鍵。
  顯示 "Base" (即 “未鍍過(guò)的底材")

• 在底材上測量五次左右.
  每次測量后，會(huì )顯示當前的讀數。

• 按 [OK]鍵.  
  顯示 0.00 和 STD1 (即校準標準片 # 1).

• 把校準標準片放在底材上，并測量5次左右。
  每次測量后，屏幕上會(huì )顯示當前讀數。

• 用 [5] 或 [6]鍵調整第4步的zui后一個(gè)數值至標準片的標稱(chēng)值， 如“75 µm"。 標準片的標稱(chēng)值注明在標準片上。

• 按 [OK]鍵。
  完成校準程序. 儀器返回測量狀態(tài).

7 刪除校準資料 / 恢復初始曲線(xiàn)

有時(shí)，如果經(jīng)過(guò)校準后，儀器測量仍然不準確，則可以刪除校準參數。如果先前的校準程序沒(méi)有正確進(jìn)行的話(huà)，就可能會(huì )發(fā)生這種情況。
在這種情況下，可以把特征曲線(xiàn)恢復到原始的出廠(chǎng)設定。

刪除儀器的校準參數 （前提：儀器必須打開(kāi)）

• 按[CAL]鍵. 屏幕上顯示"Base" (即 “底材") .

• 在底材上測量5次左右.

• 按[OK]鍵. 顯示 “STD1" (即校準標準片 # 1) .

• 在底材上測量1次.
  屏幕將顯示0左右的讀數.

• 用[5] 或 [6] 鍵將 STD1調整到 0.00 .
  屏幕將顯示 “0.00   STD1" .

• 按 [OK] 鍵?；謴偷匠跏嫉奶卣髑€(xiàn)。
  恢復完成。 儀器現在可以測量了。

10 儀器及附件的訂貨資料