現貨供應Fischer DualScope FMP40的詳細資料：

現貨供應Fischer DualScope FMP40

德國Fischer測厚儀公司生產(chǎn)的儀器，全部采用了現階段zui的科學(xué)技術(shù)，渦流法與磁感應方法測量涂層厚度。

電渦流方法：
通過(guò)探頭的激勵電流產(chǎn)生一個(gè)高頻初級磁場(chǎng)區域，該磁場(chǎng)在基材內產(chǎn)生感生電渦流，次級磁場(chǎng)區域削弱初級磁場(chǎng)區域，削弱影響相當于探頭和基材之間的距離即涂鍍層的厚度，然后通過(guò)儲存在儀器內的探頭特征曲線(xiàn)將削弱影響轉換為涂鍍層厚度值顯示出來(lái)。

影響涂層測厚儀測量值精度的因素

　　1．影響因素的有關(guān)說(shuō)明

　　a 基體金屬磁性質(zhì)

　　磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際應用中，低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的），為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器進(jìn)行校準；亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準。

　　b 基體金屬電性質(zhì)

　　基體金屬的電導率對測量有影響，而基體金屬的電導率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器進(jìn)行校準。

　　c 基體金屬厚度

　　每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器的臨界厚度值見(jiàn)附表1。

　　d 邊緣效應

　　本儀器對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內轉角處進(jìn)行測量是不可靠的。

　　e 曲率

　　試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著(zhù)曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。

　　f 試件的變形

　　測頭會(huì )使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測出可靠的數據。

　　g 表面粗糙度

　　基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會(huì )引起系統誤差和偶然誤差，每次測量時(shí)，在不同位置上應增加測量的次數，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類(lèi)似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對儀器的零點(diǎn)；或用對基體金屬沒(méi)有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對儀器的零點(diǎn)。

　　g 磁場(chǎng)

　　周?chē)鞣N電氣設備所產(chǎn)生的強磁場(chǎng)，會(huì )嚴重地干擾磁性法測厚工作。

　　h 附著(zhù)物質(zhì)

　　本儀器對那些妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著(zhù)物質(zhì)敏感，因此，必須清除附著(zhù)物質(zhì)，以保證儀器測頭和被測試件表面直接接觸。

　　i 測頭壓力

　　測頭置于試件上所施加的壓力大小會(huì )影響測量的讀數，因此，要保持壓力恒定。

　　j 測頭的取向

　　測頭的放置方式對測量有影響。在測量中，應當使測頭與試樣表面保持垂直。

　　2．使用儀器時(shí)應當遵守的規定

　　a 基體金屬特性

　　對于磁性方法，標準片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應當與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。

　　對于渦流方法，標準片基體金屬的電性質(zhì)，應當與試件基體金屬的電性質(zhì)相似。

　　b 基體金屬厚度

　　檢查基體金屬厚度是否超過(guò)臨界厚度，如果沒(méi)有，可采用3.3中的某種方法進(jìn)行校準。

　　c 邊緣效應

　　不應在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內轉角等處進(jìn)行測量。

　　d 曲率

　　不應在試件的彎曲表面上測量。

　　e 讀數次數

　　通常由于儀器的每次讀數并不*相同，因此必須在每一測量面積內取幾個(gè)讀數。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內進(jìn)行多次測量，表面粗造時(shí)更應如此。

　　f 表面清潔度

　　測量前，應清除表面上的任何附著(zhù)物質(zhì)，如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等，但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)