DualScope FMP20涂層測厚儀二合一機型的詳細資料：

DualScope FMP20涂層測厚儀二合一機型

Dualscope®FMP20：
由于自動(dòng)基板材料識別和兩種測量方法的結合，該通用儀器能夠測量鐵/鋼和非鐵磁金屬以及非導電材料上的許多涂層。根據您的測量應用，您可以根據磁感應法（Deltascope®FMP10），渦流法（Isoscope®FMP10）或根據兩種方法組合在一臺儀器（Dualscope®FMP20）中進(jìn)行的涂層厚度測量。

DualScope FMP20涂層測厚儀二合一機型符合：ISO 2178,2360,2808; EN ISO 19840; ASTM B499; D1186，D1400，D7091，E376，G12;SSPC-PA2;BS3900-C5; BS EN ISO 1461; IMO PSPC

特征：

適用于所有磁感應和渦流探頭

自動(dòng)探頭識別
自動(dòng)基材識別（FMP 20）
用戶(hù)友好的儀器操作
用于數據傳輸到PC的USB端口
大，顯示與240x160像素豐富的對比
準備在上電后進(jìn)行測量
探頭放置時(shí)自動(dòng)測量采集
內存多達1000個(gè)讀數
測量采集時(shí)的聲音信號
共同特征值的統計顯示，如平均值，標準差，zui小值，
zui大，范圍
通過(guò)ZERO鍵通過(guò)歸一化，輕松適應樣品的形狀
對于強大的形狀差異，使用一個(gè)或兩個(gè)校準箔進(jìn)行額外的校正校準
在材料和幾何特性的情況下，特性設置的主校準
將主校準存儲在連接的探頭中的能力
測量單位可以在μm和mil之間切換
可調節儀器關(guān)閉或連續操作
顯示各種狀態(tài)（例如，當電池電壓下降時(shí)的警告信息）
可鎖定鍵盤(pán)/限制操作模式
機械滑塊覆蓋測量操作不需要的鍵
各種語(yǔ)言設置

磁感應法
其強度取決于涂層厚度，并被磁性基材擴大。 捕獲該放大的測量線(xiàn)圈的信號通過(guò)存儲在儀器中的探針特性轉換成涂層厚度讀數。

渦流法

探頭的激勵電流使得能夠在基材中引起渦流的高頻初級磁場(chǎng)。 其二次磁場(chǎng)削弱了主場(chǎng)。 這種弱化效應對應于探頭和基材之間的距離（=涂層厚度），并通過(guò)存儲在儀器中的探頭特性轉換成涂層厚度讀數。