QNix 4500便攜式膜厚儀的詳細資料：

QNix 4500便攜式膜厚儀

    篤摯儀器： 我們經(jīng)營(yíng)各類(lèi)物理測量?jì)x器，是世界的正規代理商和供應商，產(chǎn)品種類(lèi)齊全，包括各種測量?jì)x器及相關(guān)的各種配件，我們的產(chǎn)品覆蓋zui常見(jiàn)的測量任務(wù)。 對于非標準測量，可以使用多種系統附件，以便對整個(gè)測量任務(wù)進(jìn)行系統定制。詢(xún)價(jià)，我們有專(zhuān)業(yè)的技術(shù)人員和多年的從業(yè)經(jīng)驗，可以提供根據您的具體要求為您提供量身定制的測量方案。

    測厚儀采用的電子技術(shù),能滿(mǎn)足各種不同的測量要求。高精度的設備,堅固的結構和便于使用等特點(diǎn)使得該儀器具有廣泛的應用。 只要正確使用和維護,它的壽命會(huì )很長(cháng)。儀器需要保持清潔, 不要摔落, 避免與 潮氣,具有化學(xué)腐蝕性的物質(zhì)或氣 體接觸。使用完畢,儀器應被放回具有保護性 和便于挪動(dòng)的盒子中。溫度的劇烈變化將影響測量結果,所以不要直接把儀器暴 露在強烈的陽(yáng)光下或能引起溫度聚變的能量中。儀器對大多數溶劑具有抵抗性, 但不能保證極少數化學(xué)物質(zhì)的腐蝕,只有探針保持清潔,才能獲得準確的數據,所 以要定期檢查探針,清理探針上殘留的污物諸如漆等。儀器長(cháng)期不被使用時(shí), 為 避免因漏電而損壞,要取出電池。出現故障時(shí),請不要自行修理,我們的維修部門(mén) 隨時(shí)竭誠為您服務(wù)。 產(chǎn)品從購買(mǎi)之日起保修一年，紅寶石磨損及其他人為因素造成儀器損壞不予 保修。

QNix 4500便攜式膜厚儀

    可以測量磁性基體(Fe模式)；可以測量非磁性基體(NFe模式)；測量范圍：Fe:0-3000um；NFe:0-3000um；顯示精度:0.1um；精度:0-50um:≤±1um  50-1000um:≤±1.5%讀數  1000-3000um≤±3%讀數；zui小接觸面：10×10mm；zui小曲率半徑:凸面：3mm；凹面：25mm；zui小基體厚度:Fe:0.2mm/NFe:0.05mm；溫度補償范圍:0-60℃；顯示:LCD液晶(帶背光)；探頭:紅寶石固定式；電源：2×1.5V干電池；尺寸：100×60×27mm；重量：110g

    通過(guò)與工藝，行業(yè)和服務(wù)行業(yè)的用戶(hù)密切合作，已經(jīng)創(chuàng )建了一個(gè)模塊化涂層厚度計，將各種經(jīng)過(guò)驗證的QNix量規的許多特性結合在一個(gè)設備中。模塊化測量系統是一種特別小巧便利的涂層厚度計，可直接插入微型探頭。為了靈活使用，微型探頭也可以連接到延長(cháng)電纜。模塊化測量系統提供高達5000μm的移動(dòng)性，高測量精度，易于處理和不同尋常的應用。 是一種特別小巧便利的測量?jì)x，用于對所有Fe和NFe襯底上的涂層厚度進(jìn)行非破壞性測量?？梢酝ㄟ^(guò)直接插入微型探頭或將探頭連接到插入的延長(cháng)電纜上使用。

QNix 4500便攜式膜厚儀

儀器使用：

1.開(kāi)機： 裝入電池后按紅色按鍵或將儀器探頭垂直接觸被測物體表面并壓實(shí)，儀器將 自動(dòng)開(kāi)機。（使用時(shí)務(wù)必要使探頭垂直接觸被測物表面并壓實(shí)，禁止接觸狀態(tài)下 橫向滑動(dòng)探頭，以免劃傷探頭前端紅寶石。每次測量后將儀器拿起，離開(kāi)被測物 10cm 以上，再進(jìn)行下次測量。）
2.設置： 開(kāi)機后按紅色按鍵進(jìn)入菜單，QNix®4500 為 4 個(gè)選項，QNix®4500 為 2 個(gè)選 項，見(jiàn)下圖：
選擇基體 選擇基體 Fe NFe Fe/NFe 取平均值 QNix®4500 QNix®4200
“Fe”為磁性金屬基體模式， “NFe”為非磁性金屬基體模式（僅 QNix®4500）， “Fe/NFe”為自動(dòng)識別基體模式（僅 QNix®4500）， “取平均值”為儀器自動(dòng)顯示 zui后三次讀數的平均值（包括本次測量）。
按紅鍵進(jìn)入菜單后，繼續按紅鍵進(jìn)行選擇，將光標在選項上停留 2 秒后，進(jìn) 入所選項目。如在“Fe”選項上停留 2 秒后，儀器顯示如下：
Fe 測量模式
這時(shí)儀器進(jìn)入 Fe（磁性金屬基體）模式下工作。QNix®4500 也可選擇 NFe（非 磁性金屬基體）、Fe/NFe（磁性非磁性基體自動(dòng)識別）模式下工作。
進(jìn)入“取平均值”選項后，儀器顯示如下
取平均值 關(guān) 開(kāi)
在“開(kāi)”選項上停留 2 秒后，取平均值開(kāi)啟，測量時(shí)顯示數據為zui后三次讀
數的平均值（包括本次測量），測量時(shí)在屏幕右上角出現“
— X ”符號時(shí)表示取平
均值開(kāi)啟，如不需要請關(guān)閉（在取平均值選項里選擇“關(guān)”）即可。

3.測量： （1）調零： 儀器在測量前，應在基體上取零位作基準。建議用未噴涂的同一種工件表面 調零，因為材料之間導磁性和導電性不同，會(huì )造成一定誤差。 選擇相應 Fe 或 NFe 模式后，將儀器探頭壓在調零板或未噴涂的工件表面上， 不要抬起，按一下儀器上的紅鍵松開(kāi)，儀器依次顯示“零位參照、放置探頭”、 “零位參照，拿起探頭”或聽(tīng)到儀器響聲后，拿起儀器，出現一組數據或聽(tīng)到響 聲后，液晶顯示 0，調零完畢。
注意：由于工件表面粗糙度等原因，調零后，再測時(shí)不一定是的零位， 這是正?，F象。
（2）測量 將儀器探頭垂直接觸被測物的表面，儀器將自動(dòng)測出并顯示數據。（建議用 拇指和食指拿住儀器凹槽處使用，分體型用拇指和食指拿住探頭凹槽處使用）

4.分體型說(shuō)明： QNix®4200P、QNix®4200P5、QNix®4500P、QNix®4500P5 采用有線(xiàn)分體型設 計，測量方便、穩定、準確，探頭連接線(xiàn)堅固耐用，還可滿(mǎn)足一些狹小空間的測 量。探頭線(xiàn)和探頭可更換。