德國Elektrophysik Minitest 1100測厚儀的詳細資料：
| 品牌 | ElektroPhysik/德國EPK | 價(jià)格區間 | 5千-1萬(wàn) |
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德國Elektrophysik Minitest 1100測厚儀
關(guān)于篤摯
篤摯儀器（上海）有限公司以“優(yōu)質(zhì)成就價(jià)值——Focus On Better Quality”為宗旨，專(zhuān)注于計量檢測和材料分析設備的研究、引進(jìn)與推廣，公司以深厚的工程技術(shù)背景和高效率的資源整合幫助企業(yè)在原始設計、開(kāi)發(fā)周期、產(chǎn)品質(zhì)量、在役檢測等各方面顯著(zhù)提升效率和可靠性。
篤摯儀器（上海）有限公司擁有源自美國、英國、德國等多地區的合作伙伴，憑借種類(lèi)齊全的產(chǎn)品資源和服務(wù)，涵蓋光學(xué)儀器、測量?jì)x器、無(wú)損檢測、實(shí)驗儀器、分析儀器、量具量?jì)x等各類(lèi)檢測設備，努力為客戶(hù)解決日新月異的測量分析技術(shù)挑戰，共同提供定制化精密測量和性能分析系統解決方案，有效推動(dòng)企業(yè)實(shí)現既定目標。
篤摯儀器（上海）有限公司的產(chǎn)品和系統方案廣泛應用于大中型國有企業(yè)、汽車(chē)制造業(yè)、精密機械、模具加工、電子電力、鑄造冶金、航空航天、工程建筑、大專(zhuān)院校等研究實(shí)驗室和生產(chǎn)線(xiàn)、質(zhì)量控制和教育事業(yè)，用于評價(jià)材料、部件及結構的幾何特征和理化性能，推動(dòng)著(zhù)先進(jìn)制造技術(shù)的精益求精。
EPK成立與發(fā)展
自1948年德國Steingoever博士發(fā)明*臺利用磁吸力原理的測厚儀以來(lái)，德國EPK公司一直是表面科技的*之一、是無(wú)損涂層厚度測量的。 ElektroPhysik公司(簡(jiǎn)稱(chēng)EPK)總部位于德國科隆，是生產(chǎn)表面檢測儀器的，有超過(guò)60年的市場(chǎng)經(jīng)驗，研發(fā)和生產(chǎn)了品種繁多的的測量?jì)x器。質(zhì)量是EPK的主要目標，EPK從研發(fā)到使用、維修各個(gè)環(huán)節，都符合ISO 9001：2000質(zhì)量體系，始終為每一個(gè)應用領(lǐng)域提供適合的產(chǎn)品。
EPK在不斷開(kāi)發(fā)和創(chuàng )新科技產(chǎn)品過(guò)程中，贏(yíng)得了良好的聲譽(yù)。作為無(wú)損檢測厚度行業(yè)的*，EPK與國內的研究所和大學(xué)合作，實(shí)現了涂層厚度測量的成功發(fā)展和標準化。將來(lái)，EPK將全力發(fā)展自己的產(chǎn)品以符合zui高技術(shù)要求。
化的今天，EPK在世界各地都設有自己的分支機構和經(jīng)銷(xiāo)商。
可選探頭參數
所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇zui適用的探頭時(shí)需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
- F型探頭：測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
- N型探頭：測量有色金屬基體上的絕緣覆層
- FN兩用探頭：同時(shí)具備F型和N性探頭的功能
德國Elektrophysik Minitest 1100測厚儀
技術(shù)參數：
| MINITEST 存儲的數據量 | ||||
| 應用行數(根據不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎數據數) | 1 | 1 | 10 | 99 |
| 每個(gè)應用行下的組(BATCH)數(對組內數據自動(dòng)統計計算，并可設寬容度極限值) | 1 | 10 | 99 | |
| 可用各自的日期和時(shí)間標識特性的組數 | 1 | 500 | 500 | |
| 數據總量 | 1 | 10000 | 10000 | 10000 |
| MINITEST統計計算功能 | ||||
| 讀數的六種統計值x,s,n,max,min,kvar | √ | √ | √ | |
| 讀數的八種統計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk | √ | √ | ||
| 組統計值六種x,s,n,max,min,kvar | √ | √ | ||
| 組統計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk | √ | √ | ||
| 存儲顯示每一個(gè)應用行下的所有組內數據 | √ | |||
| 分組打印以上顯示和存儲的數據和統計值 | √ | √ | ||
| 顯示并打印測量值、打印的日期和時(shí)間 | √ | √ | √ | |
| 其他功能 | ||||
| 設置極限值 | √ | √ | ||
| 連續測量模式快速測量，通過(guò)模擬柱識別zui大zui小值 | √ | √ | ||
| 連續測量模式中測量穩定后顯示讀數 | √ | √ | ||
| 連續測量模式中顯示zui小值 | √ | √ | ||
探頭
| 探頭 | 量程 | 低端 分辨率 | 誤差 | zui小曲率半徑 (凸/凹) | zui小測量 區域直徑 | zui小基 體厚度 | 探頭尺寸 | |
| 磁 感 應 法 | F05 | 0-500μm | 0.1μm | ±(1%±0.7μm) | 1/5mm | 3mm | 0.2mm | φ15x62mm |
| F1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | 0.5mm | φ15x62mm | |
| F1.6/90 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 平面/6mm | 5mm | 0.5mm | φ8x8x170mm | |
| F2/90 | 0-2000μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 平面/6mm | 5mm | 0.5mm | φ8x8x170mm | |
| F3 | 0-3000μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | 0.5mm | φ15x62mm | |
| F10 | 0-10mm | 5μm | ±(1%±10μm) | 5/16mm | 20mm | 1mm | φ25x46mm | |
| F20 | 0-20mm | 10μm | ±(1%±10μm) | 10/30mm | 40mm | 2mm | φ40x66mm | |
| F50 | 0-50mm | 10μm | ±(3%±50μm) | 50/200mm | 300mm | 2mm | φ45x70mm | |
| 兩 用 | FN1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | F0.5mm/N50μm | φ15x62mm |
| FN1.6P | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 平面 | 30mm | F0.5mm/N50μm | φ21x89mm | |
| FN2 | 0-2000μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | F0.5mm/N50μm | φ15x62mm | |
| 電 渦 流 法 | N02 | 0-200μm | 0.1μm | ±(1%±0.5μm) | 1/10mm | 2mm | 50μm | φ16x70mm |
| N.08Cr | 0-80μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 2.5mm | 2mm | 100μm | φ15x62mm | |
| N1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 2mm | 50μm | φ15x62mm | |
| N1.6/90 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 平面/10mm | 5mm | 50μm | φ13x13x170mm | |
| N2 | 0-2000μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | 50μm | φ15x62mm | |
| N2/90 | 0-2000μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 平面/10mm | 5mm | 50μm | φ13x13x170mm | |
| N10 | 0-10mm | 10μm | ±(1%±25μm) | 25/100mm | 50mm | 50μm | φ60x50mm | |
| N20 | 0-20mm | 10μm | ±(1%±50μm) | 25/100mm | 70mm | 50μm | φ65x75mm | |
| N100 | 0-100mm | 100μm | ±(1%±0.3mm) | 100mm/平面 | 200mm | 50μm | φ126x155mm | |
| CN02 | 10-200μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 平面 | 7mm | 無(wú)限制 | φ17x80mm | |
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