FischerScope MMS測厚儀臺式儀器的詳細資料：
| 品牌 | Helmut Fischer/德國菲希爾 | 價(jià)格區間 | 2萬(wàn)-5萬(wàn) |
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FischerScope MMS測厚儀臺式儀器
六種基本的模塊：
FISCHERSCOPE MMS PEMASCOPE涂層測厚儀
FISCHERSCOPE MMS NICKELSCOPE涂層測厚儀
FISCHERSCOPE MMS SIGMASCOPE涂層測厚儀
FISCHERSCOPE MMS DUPLEX涂層測厚儀
FISCHERSCOPE MMS PC涂層測厚儀
BFISCHERSCOPE MMS BETASCOPE 涂層測厚儀
模塊化設計可以在以后升級儀器到可用更多的方法進(jìn)行測量。 FISCHERSCOPE MMS涂層測厚儀的應用場(chǎng)合由于采用了多種測量方法，MMS 可用于電鍍廠(chǎng)，線(xiàn)路板生產(chǎn)廠(chǎng)，汽車(chē)和航空生產(chǎn)廠(chǎng)的多種應用場(chǎng)合。
FISCHERSCOPE MMS涂層測厚儀是一臺小巧和極其多用的的臺式多功能測量系統，有數據存儲及數據處理能力。使用戶(hù)可以自己配置不同的測試模塊。FISCHERSCOPE MMS PC2與Windows™CE操作系統的模塊化測量系統是高精度涂層厚度測量和材料測試的理想解決方案。 通過(guò)LAN和USB連接的網(wǎng)絡(luò )功能可以快速集成到質(zhì)量管理體系和自動(dòng)化制造流程中。有
FischerScope MMS測厚儀臺式儀器應用：
鍍鋅涂層以及鋼板上的涂料;鋁陽(yáng)極氧化涂層（PERMASCOPE®）
納米涂層（防指紋），太陽(yáng)能電池涂層（薄膜層，CdTe /玻璃），插頭觸點(diǎn)上的金涂層，焊盤(pán)上的焊料，痕量分析，光敏涂層，油和蠟層（BETASCOPE®）
測量電路板表面和通孔上的銅涂層（SIGMASCOPE®）
層壓板或多層的銅厚度，不受電路板制造中的銅涂層（SR-SCOPE®）的任何影響
電路板制造中銅阻焊層厚度（PERMASCOPE®）
汽車(chē)行業(yè)的活塞表面上的石墨涂層或制動(dòng)盤(pán)上的防腐涂層（PERMASCOPE®）
汽車(chē)行業(yè)的活塞表面（NICKELSCOPE®）上的黑色涂料
奧氏體或雙相鋼中的鐵素體含量（PERMASCOPE®）
銅，鋁，鈦等非磁性金屬的導電性（SIGMASCOPE®）
ISCHERSCOPE® X-RAY 型 X 射線(xiàn)熒光測量系統整體方案：
| FISCHERSCOPE® XUL® 穩定和低成本的X射線(xiàn)熒光測量?jì)x，用于非破壞性的金屬分析和涂層厚度測量 | ||||||||
| FISCHERSCOPE® XULM® X射線(xiàn)熒光測量?jì)x，用于對小部件進(jìn)行非破壞性的材料分析和涂鍍層厚度測量 | ||||||||
| FISCHERSCOPE® XAN® 120 X 射線(xiàn)熒光測試儀，用于快速、非破壞性的對黃金和銀合金進(jìn)行分析 | ||||||||
| FISCHERSCOPE® XAN® 220 用于快速無(wú)損分析黃金和銀合金的 X 射線(xiàn)熒光測量設備 | ||||||||
| FISCHERSCOPE® XAN® 250 滿(mǎn)足無(wú)損材料分析和涂層厚度測量zui高要求的通用型X射線(xiàn)熒光測量設備 | ||||||||
| FISCHERSCOPE® XDL® X 射線(xiàn)熒光測量?jì)x，用于對功能性涂層、防腐蝕涂層和批量生產(chǎn)的零件進(jìn)行手動(dòng)或自動(dòng)涂層厚度測 | ||||||||
| FISCHERSCOPE® XDLM® X射線(xiàn)熒光測試儀，用于對電路板、電子元件和批量零件的涂層厚度進(jìn)行手動(dòng)或自動(dòng)測量，也適用于小型結構 | ||||||||
| FISCHERSCOPE® XDAL® X 射線(xiàn)熒光測量?jì)x帶有可編程的 X/Y臺和Z軸，用于自動(dòng)測量涂鍍層厚度和材料分析 | ||||||||
| FISCHERSCOPE® XDV®-SDD 滿(mǎn)足高要求的 X 射線(xiàn)熒光測試儀，帶有可編程的 X/Y 工作臺和 Z 軸，用于自動(dòng)測量極薄的涂層和進(jìn)行印痕分析 | ||||||||
| FISCHERSCOPE® XDV®-µ 帶有毛細管X 光透鏡的 X 射線(xiàn)熒光測量?jì)x，用于在小零件和結構上自動(dòng)測量并分析涂層厚度及涂層成分 | ||||||||
| FISCHERSCOPE® XUV® 773 X 射線(xiàn)熒光測試儀帶有真空室，通用型設備測量具有全面的測量能力 | ||||||||
| FISCHERSCOPE® X-RAY-4000 X 射線(xiàn)熒光測量系統，用于在光滑的和壓印的（包括帶有鑄模接觸面）帶鋼生產(chǎn)工藝中進(jìn)行連續的在線(xiàn)測量和分析 | ||||||||
| FISCHERSCOPE® X-RAY-5000 X 射線(xiàn)熒光測量系統，用于在生產(chǎn)工藝中對較薄的鍍層如 CIGS、CIS 或 CdTe 進(jìn)行連續的在線(xiàn)測量和分析 | ||||||||
| 校準標準 校準標準 FISCHERSCOPE® X-RAY 型 X 射線(xiàn)熒光測量系統的軟件 | ||||||||
| WinFTM® 軟件® 適用于所有 FISCHERSCOPE® X-RAY 型X 射線(xiàn)熒光測量系統的軟件 | ||||||||
| 備件 X-RAY 產(chǎn)品備件 | ||||||||
| 如果你對FischerScope MMS測厚儀臺式儀器感興趣，想了解更詳細的產(chǎn)品信息，填寫(xiě)下表直接與廠(chǎng)家聯(lián)系： |