Elektrophysik代理MiniTest 700測厚儀的詳細資料：
| 品牌 | ElektroPhysik/德國EPK | 價(jià)格區間 | 1萬(wàn)-2萬(wàn) |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 | 應用領(lǐng)域 | 電子,交通,冶金,航天,汽車(chē) |
Elektrophysik代理MiniTest 700測厚儀
MiniTest 700測厚儀有三個(gè)型號：
MINITEST 725:與集成傳感器測量裝置。
MINITEST 735:傳感器通過(guò)電纜連接到測量設備。
MINITEST 745:傳感器就可以插入設備(相當于一個(gè)集成的傳感器),通過(guò)電纜連接到設備,或通過(guò)藍牙無(wú)線(xiàn)連接到設備。
技術(shù)參數-探頭
探頭特性 | F1.5，N07，FN1.5 | F2 | F5，N2.5，FN5 | F15 | |||
F | N | F | F | N | F | ||
測量范圍 | 0~1.5mm | 0~0.7mm | 0~2mm | 0~5mm | 0~2.5mm | 0~15mm | |
使用范圍 | 小工件，薄涂層 | 粗糙表面 | 標準探頭，使用廣泛 | 厚涂層 | |||
測量原理 | 磁感應 | 電渦流 | 磁感應 | 磁感應 | 電渦流 | 磁感應 | |
信號處理 | 探頭內部32位信號處理(SIDSP) | ||||||
度 | ±(1μm+0.75%讀值) | ±(1.5μm+0.75%讀值) | ±(5μm+0.75%讀值) | ||||
重復性 | ±(0.5μm+0.5%讀值) | ±(0.8μm+0.5%讀值) | ±(2.5μm+0.5%讀值) | ||||
低端分辨率 | 0.05μm | 0.1μm | 1μm | ||||
曲率半徑(凸) | 1.0mm | 1.5mm | 5mm | ||||
曲率半徑 | (凹，外置探頭) | 7.5mm | 10mm | 25mm | |||
(凹，內置探頭) | 30mm | 30mm | 30mm | ||||
測量面積 | Ø5mm | Ø10mm | Ø25mm | ||||
基體厚度 | 0.3mm | 40μm | 0.5mm | 0.5mm | 40μm | 1mm | |
連續模式下測量速度 | 每秒20個(gè)讀數 | ||||||
單值模式下測量速度 | 每分鐘70個(gè)讀數 | ||||||
篤摯儀器（上海）有限公司的產(chǎn)品和系統方案廣泛應用于大中型國有企業(yè)、汽車(chē)制造業(yè)、精密機械、模具加工、電子電力、鑄造冶金、航空航天、工程建筑、大專(zhuān)院校等研究實(shí)驗室和生產(chǎn)線(xiàn)、質(zhì)量控制和教育事業(yè)，用于評價(jià)材料、部件及結構的幾何特征和理化性能，推動(dòng)著(zhù)先進(jìn)制造技術(shù)的精益求精。
Elektrophysik代理MiniTest 700測厚儀
MiniTest 700多功能測厚儀是一款多功能涂層測厚儀，高精度和更加靈活耐用的探頭，自動(dòng)識別操作方便。結構緊密和多功能化的傳感器接入設備可用于各種測量工作。MINITEST700系列測厚儀能方便無(wú)損測量鋼鐵磁基板上非磁性涂料(油漆、合成材料、鉻等)和導電基板(鋁、銅、奧氏體不銹鋼)上的絕緣涂料(清漆、磁漆、合成材料,陽(yáng)極化鋁等)。
技術(shù)特征：
創(chuàng )新的SIDSP(探頭內部數字信號處理)技術(shù)提升了測量的性
- 測量范圍達15mm，可F、N或FN探頭，提供內置或外接探頭
- FN探頭自動(dòng)識別F(鐵磁性)或N(非磁性)基體，操作方便不易出錯
產(chǎn)品優(yōu)點(diǎn)：
SIDSP使測量不受干擾，測值更加
- 可更換探頭使用更加靈活(MiniTest740探頭可由內置換為外置)
- FN探頭自動(dòng)識別基體，使測量更迅速，避免操作錯誤
- 溫度補償功能避免溫度變化引起的錯誤
- 生產(chǎn)過(guò)程中50點(diǎn)校準使儀器獲得高度的特征曲線(xiàn)
- 大存儲量，能存儲10或100組多達100,000個(gè)讀數
- 讀數和統計值能單獨調出
- 超大，背光顯示屏，顯示內容可180度旋轉
- 菜單指引操作，25種語(yǔ)言可選
- 帶IrDA接口，紅外線(xiàn)傳輸數據到打印機和PC
- 可下載更新軟件
測量模式：
- 單一的模式
在單一模式下每分鐘70測量值可以記錄和保存。 - 連續模式
在連續模式下每秒計算高達20涂層的厚度值。在這種模式下你可以規定然后保存一系列測量的讀數。
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