FMP100高品質(zhì)系列膜厚儀--Fischer代理的詳細資料:
品牌 | Helmut Fischer/德國菲希爾 | 價(jià)格區間 | 2萬(wàn)-5萬(wàn) |
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FMP100高品質(zhì)系列膜厚儀--Fischer代理
FMP100高品質(zhì)系列膜厚儀--Fischer代理
型號:
DUALSCOPE FMP100
自動(dòng)識別基材,將兩種測量法相結合(磁感應/電渦流,符合DIN EN ISO 2178, ASTM D7091 和 DIN EN ISO 2360標準),此通用型設備不僅可以對鋼鐵上的多種涂層進(jìn)行測量還可以對非鐵金屬和非導電基材上的涂層進(jìn)行測量。
儀器平臺 | 應用軟基基于MS Windows CE |
顯示器 | 明亮圖形顯示器(彩色、觸摸屏) |
鍵盤(pán)/操作 | 4個(gè)薄膜開(kāi)關(guān),軟鍵盤(pán),***多12個(gè)軟鍵 |
探頭連接器 | 10針插座 |
通訊界面 | USB4(型號:Mini-AB)連接打印機或PC |
內存 | 256MB,用于應用程式和測量數據 |
統計 | 平均值、標準偏差、Cp、Cpk,全部數據統計、直方圖、總頻率 |
安全機制 | 應用程式和系統密碼保護,自動(dòng)儲存數據 |
數據輸出 | PDF格式的測量數據打印,測量數據以ASCII格式傳輸到PC |
語(yǔ)言 | 中文、英語(yǔ)、德語(yǔ)、法語(yǔ)、意大利語(yǔ)、西班牙語(yǔ)、日文 |
電源 | 電池/可充電電池,或者AC適配器110/230 VAC3 |
尺寸/重量 | 89×40×170(W×D×H,mm),大約395g(不包含探頭) |
操作/運輸 | 背帶,儀器支持架(折疊式設計) |
操作溫度 | 10~40℃ |
影響測量值的因素與解決方法
使用Fischer測厚儀與使用其他儀器一樣,既要掌握儀器性能,也需了解測試條件。使用磁性原理和渦流原理的Fischer測厚儀都是基于被測基體的電、磁特性及與探頭的距離來(lái)測量覆層厚度的,所以,被測基體的電磁物理特性與物理尺寸都要影響磁通與電渦流的大小。即影響到測量值的可靠性,下面就這方面的問(wèn)題作一下介紹。
1.邊界間距如果探頭與被測體邊界、孔眼、空腔、其他截面變化處的間距小于規定的邊界間距,由于磁通或渦流載體截面不夠將導致測量誤差。如必須測量該點(diǎn)的覆層厚度,只有預先在相同條件的無(wú)覆層表面進(jìn)行校準,才能測量。(注:的產(chǎn)品有透過(guò)覆層校準的*功能可達3~10%的精度)
2.基體表面曲率在一個(gè)平直的對比試樣上校準好一個(gè)初始值,然后在測量覆層厚度后減去這個(gè)初始值?;騾⒄障聴l。
3.基體金屬zui小厚度基體金屬必須有一個(gè)給定的zui小厚度,使探頭的電磁場(chǎng)能*包容在基體金屬中,zui小厚度與測量器的性能及金屬基體的性質(zhì)有關(guān),在這個(gè)厚度之上剛好可以進(jìn)行測量而不用對測量值修正。對于基體厚度不夠而產(chǎn)生的影響,可以采取在基材下面緊貼一塊相同材料的措施予以消除。如難以決斷,或無(wú)法加基材則可以通過(guò)與已知覆層厚度的試樣進(jìn)行對比來(lái)確定與額定值的差值。并且在測量中考慮這點(diǎn)而對測量值作相應的修正或參考第2條修正。而那些可以標定的儀器通過(guò)調整旋鈕或按鍵,便可以得到準確的直讀厚度值。反之利用厚度太小產(chǎn)生的影響又可以研制直接測銅箔厚度的測厚儀,如前所述。
4.表面粗糙度和表面清潔度在粗糙度表面上為獲得一個(gè)有代表性的平均測量值必須進(jìn)行多次測量才行。顯而易見(jiàn),不論是基體或是覆層,越粗糙,測量值越不可靠。為獲得可靠的數據,基體的平均粗糙度Ra應小于覆層厚度的5%。而對于表面雜質(zhì),則應予去除。有的儀表上下限,以剔除那些“飛點(diǎn)”。
5.探頭測量板的作用力探頭測量時(shí)的作用力應是恒定的。并應盡可能小。才不致使軟的覆層發(fā)生形變,以致測量值下降?;町a(chǎn)生大的波動(dòng),必要時(shí),可在兩者之間墊一層硬的,不導電的,具有一定厚度的硬性薄膜。這樣通過(guò)減去薄膜厚度就能適當地得到剩磁。
6.外界恒磁場(chǎng)、電磁場(chǎng)和基體剩磁應該避免在有干擾作用的外界磁場(chǎng)附近進(jìn)行測量。殘存的剩磁,根據檢測器的性能可能導致或多或少的測量誤差,但是如結構鋼,深沖成形鋼板等一般不會(huì )出現上述現象。
7.覆層材料中的鐵磁成份和導電成份覆層中存在某些鐵磁成分,如某種顏料時(shí),會(huì )對測量值產(chǎn)生影響,在這種情況下,對用作校準的對比試樣覆層應具有與被測物覆層相同的電磁特性,經(jīng)校準后使用。使用的方法可以是將同樣的覆層涂在鋁或銅板試樣上,用電渦流法測試后獲得對比標準試樣。
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