X-RAY XULM 240 X射線(xiàn)熒光鍍層測厚儀的詳細資料：

FISCHERSCOPE®X-RAYXUL和XULM系列熒光鍍層測厚儀介紹：

        多用途的鍍層厚度測量?jì)x。無(wú)論是薄的還是厚的鍍層（如50 nm Au或100 μmSn）都通過(guò)選擇好的高壓濾片組合很好地測量。微聚焦管可以達到在很短的測量距離內小到100 μm的測量點(diǎn)大小。高達數kcps的計數率可以被比例接收器接收到。對于FISCHERSCOPE®X-RAYXUL和XULM系列來(lái)說(shuō)，X射線(xiàn)源和接收器位于測量室的下方，這樣可以快速方便地定位樣品。除此以外，視頻窗口也可以輔助定位，儀器前方的大控制臺簡(jiǎn)化了操作，特別是在日常生產(chǎn)中測量大量部件時(shí)特別有用。盡管結構緊湊，但這些儀器都有大容量的測量室，這樣大的物品也可以測量。殼體的開(kāi)槽設計（C型槽）可以測量諸如印刷線(xiàn)路板類(lèi)大而平整的樣品，即使這些樣品可能無(wú)法*放入測量室，樣品直接放置在平整的支撐臺上，或者定位精度更高的手動(dòng)X(jué)Y工作臺上。

XULM 240介紹：

XULM適合測量小的結構。它配備了微聚焦管，測量點(diǎn)小可達約100μｍ，同時(shí)比例接收器仍然可以保持相對高的計數率。即使很短的測量時(shí)間也可以達到很好的重復精度。此外，XULM配備了可自動(dòng)切換的準直器和多種濾片可以靈活地為不同的測量應用創(chuàng )造*佳的激勵條件。

特征:
□ 帶玻璃窗口和鎢靶的X射線(xiàn)管或帶鈹窗口
       和鎢靶的微聚焦X射線(xiàn)管。*高工作條
       件:50KV,50W
□ X射線(xiàn)探測器采用比例接收器
□ 準直器：固定或4個(gè)自動(dòng)切換，0.05 x
       0.05 mm 到 Ø 0.3 mm
□ 基本濾片：固定或3個(gè)自動(dòng)切換
□ 測量距離可在0-27.5mm范圍內調整
□ 固定的樣品支撐臺或手動(dòng)X(jué)Y工作臺
□ 攝像頭用來(lái)查看基本射線(xiàn)軸向方向的測量
       位置?？潭染€(xiàn)經(jīng)過(guò)校準，顯示實(shí)際測量點(diǎn)大小。
□ 設計獲得許可，防護全面，符合德國X射
       線(xiàn)條例第4章第3節

典型應用領(lǐng)域：
□ 線(xiàn)路板行業(yè)Au/Ni/Cu/PCB或Sn/Cu/PCB
       等鍍層的測量
□ 電子行業(yè)接插件和觸點(diǎn)的鍍層測量
       electronics industry
□ 裝飾性鍍層Cr/Ni/Cu/ABS
□ 批量生產(chǎn)部件（螺絲和螺母）防腐鍍層測
       量，如Zn/Fe、ZnNi/Fe
□ 珠寶和手表行業(yè)
□ 測定電鍍槽中的金屬含量

應用實(shí)例:

XULM特別適合測量細小的部件如連接器，觸點(diǎn)或線(xiàn)，也可以測量印刷線(xiàn)路板上的Au，Ni和Cu鍍層厚度。即使80nm的很薄的金鍍層也可以用測量點(diǎn)為Ø0.25mm的準直器測量，20秒的重復精度可達2.5nm。