Couloscope CMS2 STEP多層鎳電位差測厚儀的詳細資料：

Couloscope CMS2 STEP多層鎳電位差測厚儀

 COULOSCOPE® CMS2 STEP 
 CMS2 STEP 的特征是STEP測試功能（同時(shí)測定厚度和電位差）。 在多層鎳的質(zhì)量監控中用于對鍍層厚度和電位差的標準化STEP測試 （根據ASTM B764-94和DIN 50022）。鍍層厚度根據庫侖法得出， 而電位差則由一個(gè)鍍有AgCl的銀電極得到。
 COULOSCOPE® CMS2 
 CMS2可以測量幾乎所有基材上金屬鍍層的厚度，包括多鍍層結構; 它的工作原理是根據陽(yáng)極溶解的庫侖法 （DIN EN ISO 2177）。 簡(jiǎn)單的操作和菜單化的操作指導使CMS2成為電鍍行業(yè)生產(chǎn)監控和質(zhì)量檢驗理想的解決方法。設備為不同的鍍層結構配備了近100個(gè)預留的應用程式（例如，鐵上鍍鋅，黃銅上鍍鎳）, 以及各種電解速度（例如1, 2, 5, and 10 μm/min）。這些應用程式適用于多鍍層系統。
 COULOSCOPE® CMS2的特征
 大尺寸高分辨率的彩色顯示器
 簡(jiǎn)單的操作和圖示的用戶(hù)指導
 使用V18支架實(shí)現半自動(dòng)化測量
 電解速度和測量面積的簡(jiǎn)單選擇 （0.1 ----- 50 μm/min） 和（0.6 ----- 3.2 mm Ø）
 電壓曲線(xiàn)圖形顯示
 圖形和統計分析 多語(yǔ)言和計量單位可供選擇
 COULOSCOPE® CMS2 STEP的特殊功能 
 同時(shí)測量鍍層厚度和電位差
 銀參比電極的簡(jiǎn)單準備
 可調節的電解電流
 COULOSCOPE® CMS2 STEP庫侖法測量鍍層厚度和多層鎳電位系統概述 一個(gè)測量系統包括COULOSCOPE® CMS2或CMS2 STEP和一個(gè)有測量槽的支架（例如：STEP測量槽）。各種測量臺設計適合不同的應用。 可選配件 大量的可選配件使測量工作更便利，確保了安全的儲存并為固定工件提供輔助。
 
 校準 校準時(shí)會(huì )產(chǎn)生一個(gè)修正系數 。這是由于測量槽密封墊子的制造公差、鍍層密度的變化、合金成分的變化，需要該修正系數。