Surtronic DUO分體式粗糙度測量?jì)x的詳細資料：
| 品牌 | TaylorHobson/英國泰勒霍普森 | 產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 |
|---|---|---|---|
| 應用領(lǐng)域 | 電子,交通,冶金,航天,汽車(chē) |
Surtronic DUO分體式粗糙度測量?jì)x
Surtronic DUO粗糙度儀是英國泰勒公司新型粗糙度儀，SURTRONIC DUO新型粗糙度儀可測Ra，Rz兩種參數。DUO具有紅外接口可在距離被測物1米處進(jìn)行測量。
表面粗糙度基礎：
每個(gè)組件表面都會(huì )有一些紋理形狀因結構和制造方式而有所差異。這些表面可以劃分為三個(gè)主要類(lèi)別:粗糙度、波紋度和形狀。為了控制制造過(guò)程或預測組件在使用過(guò)程中的行為，有必要使用表面紋理參數對表面特征進(jìn)行量化。
表面紋理參數可分為三個(gè)基本類(lèi)型:
振幅參數-測量表面偏差的垂直特征
間距參數-測量表面偏差的水平特征
混合參數-間距參數和振幅參數的組合
樣本長(cháng)度-輪廓會(huì )劃分為樣本長(cháng)度|，它的長(cháng)度足以容納進(jìn)行可靠的統計所需的數據量。對于粗糙度和波紋度分析，樣本長(cháng)度等于選擇的截止長(cháng)度。
截止長(cháng)度(Lc) -截止長(cháng)度是使用電子或數學(xué)方法移除或減少不必要的數據以查看重點(diǎn)區域的波長(cháng)的濾波器。樣本長(cháng)度也稱(chēng)為截止長(cháng)度。
測定長(cháng)度-用于評估要測定輪廓的X軸方向的長(cháng)度。測定長(cháng)度可能包含-一個(gè)或多個(gè)樣本長(cháng)度。對于原始輪廓，測定長(cháng)度等于樣本長(cháng)度。
標準一適用時(shí)，泰勒●霍普森設備會(huì )遵從ISO3274-1996、ISO 4287-1997、ISO 4288-1996、ISO11562和其他標準所規定的程序。
測量原理：
通過(guò)采用耐磨的金剛石測針部件，以及精密的機動(dòng)驅動(dòng)裝置，確保行進(jìn)正確的水平距離。當測針劃過(guò)波峰和波谷時(shí)，高感應度的壓電傳感器能檢測到它的垂直移動(dòng)，然后將機械移動(dòng)轉化為電子信號。電子信號將進(jìn)行數字化處理并發(fā)送到微處理器，然后使用標準化算法即時(shí)計算表面粗糙度參數。
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