FISCHERSCOPE® X-RAY XDL材料分析測厚儀的詳細資料：
| 品牌 | Helmut Fischer/德國菲希爾 | 價(jià)格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 | 應用領(lǐng)域 | 電子,交通,冶金,航天,汽車(chē) |
FISCHERSCOPE® X-RAY XDL材料分析測厚儀
FISCHERSCOPE® X-RAY XDL材料分析測厚儀
FISCHERSCOPE® X-RAY XDL和XDLM系列與XUL和XULM系列密切相關(guān)：兩者都使用相同的接收器，準直器和濾片組合。配備了標準X射線(xiàn)管和固定準直器的XDL儀器非常適合大工件的測量。
兩種型號的儀器都配備了比例接收器探測器。即使對于很小的測量點(diǎn)，由于接收器的接收面積很大，仍然可以獲得足夠高的計數率，確保良好的重復精度。
XDLM型號的X射線(xiàn)源采用微聚焦管，可以測量細小的部件，對低輻射組分有較好的激勵作用。此外，XDLM配備了可自動(dòng)切換的準直器和多種濾片可以靈活地為不同的測量應用創(chuàng )造激勵條件。
比較XUL和XULM儀器而言，XDL和XDLM系列儀器測量測量方向從上到下。它們被設計為用戶(hù)友好的臺式機，使用模塊化結構，也就是說(shuō)它們可以配備簡(jiǎn)單支板，各種XY工作臺和Z軸以適應不同的需求。
配備了可編程XY工作臺的版本的XDL系列儀器可用于自動(dòng)化系列測試。它可以很方便地掃描表面，這樣就可以檢查其均勻性。為了簡(jiǎn)單快速定位樣品，當測量門(mén)開(kāi)啟時(shí)，XY工作臺自動(dòng)移動(dòng)到加載位置，同時(shí)激光點(diǎn)指示測量點(diǎn)位置。對于大而平整的樣品，例如線(xiàn)路板，殼體在側面有開(kāi)口（C形槽）。由于測量室空間很大，樣品放置方便，儀器不僅可以測量平面平整的物體，也可以測量形狀復雜的大樣品（樣品高度可達140 mm）。Z軸可電動(dòng)調整的儀器，測量距離還可以在0 – 80 mm的范圍內自由選擇，這樣就可以測量腔體內部或表面不平整的物體（DCM方法）。
典型應用領(lǐng)域
大批量電鍍件測量
防腐和裝飾性鍍層，如鎳或銅上鍍鉻
電鍍行業(yè)槽液分析
線(xiàn)路板行業(yè)如薄金，鉑和鎳鍍層的策略
測量接插件和觸點(diǎn)的鍍層
電子和半導體行業(yè)的功能性鍍層測量
黃金，珠寶和手表行業(yè)
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