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X-RAY XAN®Fischer臺式熒光測厚儀/光譜儀的詳細資料：
| 品牌 | Helmut Fischer/德國菲希爾 | 價(jià)格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 | 應用領(lǐng)域 | 電子,交通,冶金,航天,汽車(chē) |
Fischer臺式熒光測厚儀/光譜儀
Fischer臺式熒光測厚儀/光譜儀
FISCHERSCOPE® X-RAY XAN系列配置多樣，可以滿(mǎn)足非常廣泛的應用。它在快速分析和用戶(hù)友好操作方面具備特殊的優(yōu)勢，如用于貴金屬和金合金的分析。也可以用于電子和線(xiàn)路板行業(yè)超薄鍍層分析。
應用實(shí)例
配備不同類(lèi)型探測器的儀器都可以用來(lái)分析金合金。例如，配備了便宜的比例接收器探測器的XAN110，是分析包含幾個(gè)元素的簡(jiǎn)單金合金的理想設備，例如分析含Au、Ag和Cu的黃色金合金。但是，如果合金中很多元素要測量或存在光譜重疊情況，那么配備半導體探測器的儀器，如XAN120，應該更加適合。由于具備非常好的分辨率，它也可以用來(lái)區分例如在牙合金中非常關(guān)鍵的金和鉑以及融合的貴金屬合金。
對于實(shí)驗室和測試機構而言，XAN150配備了硅漂移接收器（SDD），六種濾片和四種不同的準直器，可以滿(mǎn)足多種多樣的應用。這款儀器Au的重復精度可達0.5‰以下，準確性可以灰吹法相媲美。
典型應用領(lǐng)域
珠寶和手表行業(yè)金和貴金屬分析
測量幾個(gè)納米的超薄鍍層，如印刷線(xiàn)路板和電
子元件上的Au和Pd。
痕量分析（如電子元件(RoHS)或工具中的有害
物質(zhì)）
用XAN 150分析諸如Al，Si，P等輕元素
實(shí)驗室，測試機構和大學(xué)里一般性的材料分析
和鍍層厚度測量
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