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X-RAY臺式測厚儀XDL / XDLM / XDAL的詳細資料：
| 品牌 | Helmut Fischer/德國菲希爾 | 價(jià)格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 | 應用領(lǐng)域 | 電子,交通,冶金,航天,汽車(chē) |
X-RAY臺式測厚儀XDL / XDLM / XDAL
X-RAY臺式測厚儀XDL / XDLM / XDAL
特性：
- X 射線(xiàn)熒光儀器可配備多種硬件組合，可完成各種測量任務(wù)
- 由于測量距離可以調節（大可達 80 mm），適用于測試已布元器件的電路板或腔體結構的部件
- 通過(guò)可編程 XY 工作臺與 Z 軸（可選）實(shí)現自動(dòng)化的批量測試
- 使用具有高能量分辨率的硅漂移探測器，非常適用于測量超薄鍍層（XDAL 設備）
應用：
鍍層厚度測量
- 大型電路板與柔性電路板上的鍍層測量
- 電路板上較薄的導電層和/或隔離層
- 復雜幾何形狀產(chǎn)品上的鍍層
- 鉻鍍層，如經(jīng)過(guò)裝飾性鍍鉻處理的塑料制品
- 氮化鉻 (CrN)、氮化鈦 (TiN) 或氮碳化鈦 (TiCN) 等硬質(zhì)涂層厚度測量
材料分析
- 電鍍槽液分析
- 電子和半導體行業(yè)中的功能性鍍層分析
公司由Helmut Fischer 博士于1953 年成立，自2008 年起由德國辛德芬根和瑞士休倫堡的 Helmut Fischer 基金會(huì )共同擁有。HELMUT FISCHER Holding AG 涂鍍層測厚、材料分析、微硬度測試和材料測試領(lǐng)域可以為您提供比較先進(jìn)的解決方案。
Helmut Fischer主要產(chǎn)品：Helmut Fischer測試樣片、Helmut Fischer涂層測厚儀、Helmut Fischer X射線(xiàn)熒光測量?jì)x、Helmut Fischer微硬度測試儀、Helmut Fischer鐵素體儀、Helmut Fischer氧化膜密閉性測試儀、Helmut Fischer電導率測試儀等。
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