菲希爾Couloscope CMS2 STEP庫侖法測厚儀 這個(gè)系列儀器根據 DIN EN ISO 2177 標準的庫侖法。金屬或非金屬基材上的金屬鍍層，通過(guò)在控制電流條件下電解腐蝕--------實(shí)際上就是電鍍的反過(guò)程。所載入的電流與要剝離的鍍層厚度是成正比的，假如電流和剝離面積保持不變，鍍層厚度與電解時(shí)間就是成正比的關(guān)系。

多鍍層如銅鍍鎳鍍錫測厚儀Fischer CMS2 CMS2可以測量幾乎所有基材上金屬鍍層的厚度，包括多鍍層結構;它的工作原理是根據陽(yáng)極溶解的庫侖法（DIN EN ISO 2177）。

德國菲希爾電解測厚儀 根據庫侖法測量鍍層厚度和多層鎳電位差。很多常見(jiàn)的單、雙鍍層例如鐵鍍鋅或者銅鍍鎳鍍錫都可以用CMS2簡(jiǎn)單快速地測量。這個(gè)方法為任何金屬鍍層提供了準確的測量。在厚度范圍 0.05 - 50 μm內， 很多材料不需要預設定；基材組成和幾何形狀對于測量都是無(wú)關(guān)緊要的。

Couloscope CMS2電解法鍍層測厚儀 在電鍍行業(yè)中，對多層鎳鍍層中各自層的同時(shí)的厚度和電極電位的測定變成了一個(gè)越來(lái)越重要的需求。的多鍍層組成為不含硫的半光亮鎳層和含硫的光亮鎳層。這兩個(gè)鎳層?reg;間足夠的電位差導致了光亮鎳層優(yōu)先腐蝕于半光亮鎳層。這種次序也就延遲了整個(gè)鎳層的穿透速度，并且給了基材相對于單鍍層更好的防腐保護。

Couloscope CMS2 STEP庫侖儀電解液 COULOSCOPE CMS STEP 雙層鎳鍍層測量 Couloscope CMS2 STEP 電解測厚儀 4種不同類(lèi)型的測量臺適合于測量各種種類(lèi)的被測物體。 Couloscope CMS2 STEP 庫侖測電位差測厚儀