涂層測厚儀德國Fischer品牌代理 Helmut Fischer主要產(chǎn)品：Helmut Fischer測試樣片、Helmut Fischer涂層測厚儀、Helmut Fischer X射線(xiàn)熒光測量?jì)x、Helmut Fischer微硬度測試儀、Helmut Fischer鐵素體儀、Helmut Fischer氧化膜密閉性測試儀、Helmut Fischer電導率測試儀等

Fischer臺式熒光測厚儀/光譜儀 FISCHERSCOPE® X-RAY XAN系列配置多樣，可以滿(mǎn)足非常廣泛的應用。它在快速分析和用戶(hù)友好操作方面具備特殊的優(yōu)勢，如用于貴金屬和金合金的分析。也可以用于電子和線(xiàn)路板行業(yè)超薄鍍層分析。

Fischer X-RAY XUL/XULM熒光測厚儀 對于FISCHERSCOPE®X-RAYXUL和XULM系列來(lái)說(shuō)，X射線(xiàn)源和接收器位于測量室的下方，這樣可以快速方便地定位樣品。除此以外，視頻窗口也可以輔助定位，儀器前方的大控制臺簡(jiǎn)化了操作，特別是在日常生產(chǎn)中測量大量部件時(shí)特別有用。

Fischer孔銅測厚儀原裝探頭ESL080B ESL080B是一個(gè)針尖形狀的測量探頭，測量時(shí)需要插入通孔內 。一個(gè)外部的金屬護套保護測量線(xiàn)圈不受腐蝕和機械損壞。

Fischer膜厚儀 新款DUALSCOPE®MP0采用廣受認可的Fischer探頭技術(shù)，是為小巧并能大程度滿(mǎn)足您測量需要的儀器。它測量精度高、界面友好且結實(shí)耐用。