FISCHERSCOPE XDAL237 x射線(xiàn)鍍層測厚儀 來(lái)自德國菲希爾的X射線(xiàn)熒光測量?jì)x，帶有快速可編程的XY平臺和Z軸，可自動(dòng)測量薄涂層厚度和進(jìn)行材料分析。 FISCHERSCOPE X-RAY XDAL型儀器可以用來(lái)測量SnPb焊層中的鉛含量。

菲希爾XDLM-pcb200代理 測量印制電路板上鍍層厚度及成分分析的入門(mén)級、耐用型測量?jì)x。用于測量和分析印刷電路板上的涂層厚度和成分的X射線(xiàn)熒光測量?jì)x器。FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-PCB儀器是專(zhuān)門(mén)用于測量和分析印刷電路板上的涂層厚度和成分的堅固耐用的入門(mén)級儀器

菲希爾xulm-240 對于FISCHERSCOPE®X-RAYXUL和XULM系列來(lái)說(shuō)，X射線(xiàn)源和接收器位于測量室的下方，這樣可以快速方便地定位樣品。除此以外，視頻窗口也可以輔助定位，儀器前方的大控制臺簡(jiǎn)化了操作

菲希爾 X-RAY 能量散射X射線(xiàn)熒光光譜法（EDXRF）作為鍍層厚度測量和材料分析的方法，可用來(lái)定量和定性分析樣品的元素組成，也可用于鍍層和鍍層系統的厚度測量。

菲希爾X-RAY XDV-µ SEMI全自動(dòng)熒光分析儀 FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ SEMI 是一款全自動(dòng)測量系統。針對半導體行業(yè)復雜的 2.5D/3D 封裝應用中的微結構質(zhì)量控制進(jìn)行了優(yōu)化。全自動(dòng)分析可避免損壞寶貴的晶圓材料。